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激光粒度儀

描述：

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
云唐激光粒度儀是一款具備zeta電位和納米粒度雙重測(cè)試能力的高-端動(dòng)態(tài)光散射粒度儀產(chǎn)品。使用電泳光散射技術(shù)測(cè)定zeta電位，求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)-越性，并可以配合激光粒度分布儀聯(lián)合應(yīng)用于各項(xiàng)試驗(yàn)。

產(chǎn)品型號(hào)：YT-JL601
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2025-05-21
訪問量：307

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產(chǎn)品詳情/ PRODUCT DETAIL

標(biāo)題：激光粒度儀

產(chǎn)品概述

激光粒度分析儀_01.jpg

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

激光粒度儀是一款具備zeta電位和納米粒度雙重測(cè)試能力的高-端動(dòng)態(tài)光散射粒度儀產(chǎn)品。

使用電泳光散射技術(shù)測(cè)定zeta電位，求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)-越性，并可以配合激光粒度分布儀聯(lián)合應(yīng)用于各項(xiàng)試驗(yàn)。

適用范圍：

激光粒度儀同時(shí)具有Zeta電位及納米粒徑的分析測(cè)試功能，適用于多種不同的納米乳液、懸浮液膠體等的粒度和表面電位測(cè)量，能廣泛應(yīng)用于精細(xì)化工行業(yè)納米材料、表活、低聚物等的研發(fā)和生產(chǎn)質(zhì)控，同時(shí)也是油墨，醫(yī)藥制劑等行業(yè)產(chǎn)品研發(fā)及質(zhì)控檢測(cè)儀器。

技術(shù)參數(shù)：

規(guī)格型號(hào)	YT-JL601
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)	GB/T 19627-2005/ISO 13321-1996 ；GB/T 29022-2012/ISO 22412-2008
測(cè)試范圍	1-10000nm（與樣品有關(guān)）		-500mV — +500mV
濃度范圍	0.1mg/ml--100mg/ml(與樣品有關(guān))
電泳遷移率范圍	> ±20μm.cm/V.s
最高電導(dǎo)率	200mS/cm（取決于樣品）
準(zhǔn)確度誤差	<1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值）		<15%（標(biāo)準(zhǔn)樣品）
重復(fù)性誤差	<1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值）		<15%（標(biāo)準(zhǔn)樣品）
激光光源	半導(dǎo)體激光器，λ= 635nm，P=1-40mw （可調(diào)）
探測(cè)器	光電倍增管PMT
散射角	90o		18o
樣品池體積	10mm10mm40mm, 1--4mL		10mm10mm60mm, 1mL
溫控范圍	5-45℃
溫控精度	0.1℃
測(cè)試速度	<5 Min
數(shù)字相關(guān)器主要參數(shù)	規(guī)格型號(hào)	HA1024	HA1024
	自相關(guān)通道	892	892
	基線通道	4	-
	物理通道數(shù)	5000	-
	延遲時(shí)間	1µs-10ms（可調(diào)）	1µs-10ms（可調(diào)）
體積	560mm450mm280mm
重量	20Kg

產(chǎn)品特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)：

測(cè)試原理	采用電泳光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù)，根據(jù)顆粒在液體中的電泳運(yùn)動(dòng)速度測(cè)定顆粒Zeta電位的大小。顆粒電泳運(yùn)動(dòng)的群體速度，激光照射這些顆粒，導(dǎo)致的散射光多普勒頻移量不同。光子相關(guān)光譜法就根據(jù)頻移量分析顆粒Zeta電位的大小。
超高速數(shù)據(jù)采集	本儀器的核心部件通過HA1024數(shù)字相關(guān)器，能實(shí)時(shí)完成電泳散射光強(qiáng)的采集和自相關(guān)函數(shù)運(yùn)算，從而有效地反映顆粒的電泳運(yùn)動(dòng)速度的信息，為Zeta電位測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性奠定基礎(chǔ)。
高靈敏度信噪比	采用專業(yè)級(jí)高性能光電倍增管，對(duì)光子信號(hào)具有極-高的靈敏度和信噪比。
高精度恒溫控制	采用半導(dǎo)體溫控技術(shù)，溫控精度高達(dá)0.1℃,使樣品在整個(gè)測(cè)試過程中始終處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運(yùn)動(dòng)變化導(dǎo)致的測(cè)試偏差，保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性及穩(wěn)定性
穩(wěn)定的光路系統(tǒng)	采用光學(xué)移頻裝置與光纖耦合技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng)，使探測(cè)系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強(qiáng)的抗干擾能力，從而保證了測(cè)試的穩(wěn)定性。

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